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- Oberflächenmorphologie mittels Rasterelektronenmikroskopie (SEM) oder Atomkraft-Mikroskopie (AFM)
- Chemische Oberflächenanalytik mittels Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS / ESCA, Tiefenprofilanalyse)
- Raster-Tunnel-Mikroskopie (STM)
- Spektroskopische Ellipsometrie
- Profilometrie (Stylus-Profilometer)
- Schichtdickenbestimmung nach der Kalottenschleifmethode (Schichten im Mikrometerbereich)
- Bestimmung von Schichteigenspannungen über die Biegebalkenmethode
- Kontaktwinkelmessung
- Farbmessung
- Viskosimetrie
- Zeta-Potenzial
- Elektrische Charakterisierung von Bauelementen mittels Parameter-Analyser
- UV-VIS-NIR Spektroskopie
- Lumineszenzspektroskopie
- Polarisationsspektroskopie
- Pikosekunden-Photophysik
- Mehrphotonen-Spektroskopie und Lithographie
- Lichtmikroskopische Untersuchungen
- Photogoniometrie
- Quarzkristall-Mikrowaage mit Dämpfungsmessung (QCM-D)
- Thermoanalyse (Thermogravimetric Analysis / Differential Scanning Calorimetry – TGA / DSC)
- Infrarotspektroskopie
- Metallographie
- Röntgenfluoreszenzanalyse
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