Im Rahmen der Veranstaltung werden moderne Methoden zur Charakterisierung von Schichten vorgestellt. Darüber hinaus erhalten die Teilnehmenden bei einer Besichtigung des Surface Characterization Lab spannende Einblicke in die Forschungsarbeit des Instituts MATERIALS.
Tagesordnungspunkte
- Begrüßung und Hinweis auf die LEITLINIEN ZUR EINHALTUNG KARTELLRECHTLICHER VORSCHRIFTEN,
Ulrich Trog und Wolfgang Waldhauser (JOANNEUM RESEARCH) - Kurzvorstellung der Teilnehmer*innen Vorstellung Surface Characterization Lab,
Philipp Schäffner (JOANNEUM RESEARCH) - Vortrag „Rasterkraftmikroskopie (AFM) und deren Einsatzmöglichkeiten“,
Philipp Schäffner (JOANNEUM RESEARCH) - Vortrag „Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) und Ellipsometrie – Einsatzmöglichkeiten“,
Alexander Fian (JOANNEUM RESEARCH) - Vortrag „Mikro- und Nanoindentation zur mechanischen Schichtcharakterisierung“,
Richard Ruf (Anton Paar GmbH) - Vortrag „Durchstrahlungselektronenmikroskopie und deren Einsatzmöglichkeiten“,
Gerald Kothleitner (FELMI-ZFE) - Vorstellung Europäische Forschungsgesellschaft Dünne Schichten e.V. (EFDS),
Udo Klotzbach (EFDS) - Laborbesichtigung: Philipp Schäffner und Alexander Fian
- Schlussworte und Ausklang
Die Teilnahme ist für Mitglieder sowie Gäste des ASMET-Fachausschusses „Advanced Surface Engineering“ kostenlos. Eine vorherige Anmeldung ist erforderlich.
