Surface Characterization Lab
Messungen und Analyse von kleinsten Strukturen, Schichten und Bauelementen im Mikro- und Nanometermaßstab
AFM, credit JOANNEUM RESEARCH / Bernhard Bergmann
Wir bieten Messungen und Analysen von kleinsten Strukturen, Schichten und Bauelementen im Mikro- und Nanometermaßstab. Dafür stehen Methoden wie AFM, REM (Draufsicht, Querschnitt), XPS/UPS, REM+EDX, konfokale Laserscanningmikroskopie, Ellipsometrie, UV-VIS-NIR Spektroskopie, oder (Röntgen-) Fluoreszenzanalyse zur Verfügung. Unsere Methoden eignen sich auch für flexible und weiche Materialien wie Polymere, Komposite sowie geschichtete Systeme (z.B. additiv gefertigt).
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