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Forschungsinfrastruktur -  
Materials

Surface Characterisation Lab

Messungen und Analysen von kleinsten Strukturen, Schichten und Bauelementen im Mikro- und Nanomaßstab auf diversen (z.B. auch flexiblen) Substraten.

 

Jupiter XR Atomic Force Microscope (AFM), Foto: JOANNEUM RESEARCH/Bergmann

Wir bieten mit unserem Surface Characterisation Lab Messungen und Analysen von kleinsten Strukturen, Schichten und Bauelementen im Mikro- und Nanomaßstab auf diversen (z.B. auch flexiblen) Substraten an. 

Wenn Sie aus dem wissenschaftlichen Bereich kommen, ist das genauso interessant wie für Kunden aus der Industrie. Für die Messungen verwenden wir folgende Technologien: 

  • Rasterkraftmikroskopie (AFM)
  • konfokale Laserscanningmikroskopie von Keyence mit großer Bühne
  • Ultramikrotomie für Präzisionsschnitte in Kombination mit Elektronenstrahllithographie (REM)
  • Röntgen- und UV-Photoelektronenspektroskopie (XPS/UPS) sowie REM/EDX
  • Ellipsometrie
  • UV-VIS-NIR Spektroskopie 
  • Fluoreszenzanalyse
  • Röntgenfluoreszenzanalyse

 

Kontakt

Ihre Ansprechperson

Mag. Dr. Philipp Schäffner

Standort

MATERIALS – 
Institut für Sensorik, Photonik und Fertigungstechnologien
Franz-Pichler-Straße 30,
8160
Weiz

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